「FED」が日欧のマスターモニター規格に対応 －「NAB2008」に出展

4月10日発表

　株式会社エフ・イー・テクノロジーズは、開発中のナノスピント型「FED(Field Emission Display/電界放出ディスプレイ)」について、マスターモニターとしての要求条件に対応可能であることを実証し、14日から米国ラスベガスで開催される放送機器展示会「NAB2008」に出展する。

　「ナノスピント型FED」は、電子を蛍光体に衝突させて発光させるというブラウン管に近い自発光方式のディスプレイ。ブラウン管に近い自然な高画質が実現できるほか、1ピクセルに対して微細なエミッタ(ナノスピントエミッタ)を1万個以上対抗させる構造を採用することで、画面の隅々まで歪みのない均一なフォーカス感が実現できるのが特徴。

　そのナノスピント型FEDで、日本と欧州のマスターモニター向け要求条件に対応した。日本では、社団法人電波産業会(ARIB)からは2006年12月に要求条件が「ARIB TR-B28」として発行。ヨーロッパ放送連盟(EBU)からは、2007年6月に「EBU-TECH 3320」が発行されており、両条件で定められたピーク輝度や、黒レベル、コントラスト比、ガンマ特性、階調性などの各項目にFEDが対応。映像製作に不可欠なマスターモニターの仕様を満たした。

　両団体の要求条件を満たしたディスプレイデバイスは、ナノスピントFEDが世界初という。エフ・イー・テクノロジーズでは、今後セットメーカーとの協力を続け、要求条件を満たしながら、パネルの開発/事業化を行なっていく。

□エフ・イー・テクノロジーズのホームページ
http://fe-tech.co.jp/
□ニュースリリース(PDF)
http://fe-tech.co.jp/jp/pdf/FET_PressRelease_J_20080410.pdf
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( 2008年4月10日 )

[AV Watch編集部/usuda@impress.co.jp]

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